Gaya APA
Purwaningsih, Endang. (2020).
Paten Dan Merek : Economic And Technological Interests Dalam Eksploitasi Paten Dan Merek (Cet. Ke-1).
Malang:
.
Gaya Chicago
Purwaningsih, Endang.
Paten Dan Merek : Economic And Technological Interests Dalam Eksploitasi Paten Dan Merek.
Cet. Ke-1
Malang:
,
2020.
Text.
Gaya MLA
Purwaningsih, Endang.
Paten Dan Merek : Economic And Technological Interests Dalam Eksploitasi Paten Dan Merek.
Cet. Ke-1
Malang:
,
2020.
Text.
Gaya Turabian
Purwaningsih, Endang.
Paten Dan Merek : Economic And Technological Interests Dalam Eksploitasi Paten Dan Merek.
Cet. Ke-1
Malang:
,
2020.
Print.